4.2.1.   SURFTENS HL 200

Manuelles Kontaktwinkelmessgerät speziell für die Halbleitertechnologie bis 200 mm Waferdurchmesser
 

4.2.2. SURFTENS automatic

Automatisches Kontaktwinkelmessgerät mit

- Kreuztisch zur automatischen Probenpositionierung nach frei programmierbaren Messvorlagen

- automatischem, schrittmotorgetriebenen Dispenssystem

- automatischer, schrittmotorgetriebener Absenkeinrichtung

4.2.3. SURFTENS WH 300 (Weltneuheit !)
Vollautomatisches Kontaktwinkelmessgerät mit Waferhandling-System für die 200mm- und 300mm Halbleitertechnologie

 
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